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冷凍電鏡服務(wù)的測(cè)試過(guò)程

更新時(shí)間:2024-01-11瀏覽:879次

冷凍電鏡是用于掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術(shù)(Cryo-SEM),可實(shí)現(xiàn)直接觀察液體、半液體及對(duì)電子束敏感的樣品,如生物、高分子材料等。樣品經(jīng)過(guò)超低溫冷凍、斷裂、鍍膜制樣(噴金/噴碳)等處理后,通過(guò)冷凍傳輸系統(tǒng)放入電鏡內(nèi)的冷臺(tái)即可進(jìn)行觀察。其中,快速冷凍技術(shù)可使水在低溫狀態(tài)下呈玻璃態(tài),減少冰晶的產(chǎn)生,從而不影響樣品本身結(jié)構(gòu),冷凍傳輸系統(tǒng)保證在低溫狀態(tài)下對(duì)樣品進(jìn)行電鏡觀察。

MicroED晶體結(jié)構(gòu)解析平臺(tái),無(wú)需單晶培養(yǎng),僅需要少量(mg)粉末樣品,最快可在1天內(nèi)完成高精度的晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定,至今已成功完成100多個(gè)小分子藥物的晶體結(jié)構(gòu)解析。
平臺(tái)優(yōu)勢(shì):
無(wú)需單晶培養(yǎng)。
<1mg樣品消耗量。
1天完成樣品結(jié)構(gòu)解析。
95%以上解析成功率。
99.9%構(gòu)型解析。
應(yīng)用場(chǎng)景:
晶體結(jié)構(gòu)解析。
絕對(duì)構(gòu)型判定。
鹽與共晶區(qū)分。
混合物組分結(jié)構(gòu)測(cè)定。
同分異構(gòu)確定。
測(cè)試過(guò)程:粉末樣品-冷凍樣品制備-冷凍電鏡測(cè)試-衍射數(shù)據(jù)收集-結(jié)構(gòu)解析

 

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